UVX 2008 (2009) 51-56
DOI: 10.1051/uvx/2009009

Caractérisation spatio-temporelle d'un laser XUV injecté

J.-P. Goddet¹, S. Sebban¹, O. Guilbaud², G. Maynard³, B. Cros³, J. Gautier¹, Ph. Zeitoun¹, C. Valentin¹, F. Tissandier¹, T. Marchenko¹, G. Lambert¹, D. Benredjem², A. Boudaa³, A. Klisnick², D. Ros², S. Kazamias², K. Cassou^{2, 3}, J. Habib², G. Jamelot², J.-C. Lagron², D. Joyeux⁴, S. De Rossi⁴, D. Phalippou⁴, F. Delmotte⁴, M.F. Ravet⁴, A. Calisti⁵, T. Mocek⁶, M. Kozlová⁶ et K. Jakubczak<sup>6

1</sup>  Laboratoire d'Optique Appliquée, Palaiseau, France
²  Laboratoire d'Interaction du Rayonnement X avec la Matière, Orsay, France
³  Laboratoire des Gaz et des Plasmas, Orsay, France
⁴  Laboratoire Charles Fabry de l'Institut d'Optique, Orsay, France
⁵  Physique des Interactions Ioniques et Moléculaires, Marseille, France
⁶  Institute of Physics, Prague, Czech Republic

Publié en ligne le 7 juillet 2009

Résumé
Depuis la démonstration expérimentale au LOA en 2004, d'un laser XUV (OFI) injecté par un faisceau d'harmoniques d'ordres élevés, de nouveaux résultats sur la caractérisation de cette source XUV ont récemment été obtenus. En effet, grâce au filtrage spatial des harmoniques par le milieu amplificateur, l'harmonique amplifié à 32.8 nm nous montre un profil spatiale gaussien avec une divergence de 0.67 mrad. La variation du front d'onde a été mesurée avec un senseur de front d'onde de type Hartmann et donne une valeur de λ/17 rms. Ce qui démontre que ce laser à 32.8 nm est limitée par la diffraction. La mesure de la cohérence temporelle donne un δλ/Λ égal à 10^-5 correspondant à une durée d'impulsion de l'ordre de 5 ps

© EDP Sciences 2009