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J. Phys. IV France
Volume 11, Numéro PR7, Octobre 2001
5e Colloque sur les Sources cohérentes et incohérentes UV, VUV et XApplications et développements récents |
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Page(s) | Pr7-159 - Pr7-164 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jp4:2001749 |
Applications et développements récents
J. Phys. IV France 11 (2001) Pr7-159-Pr7-164
DOI: 10.1051/jp4:2001749
Quelques exemples récents d'utilisation de méthodes d'examen ou d'analyse des matériaux du patrimoine culturel mettant en oeuvre des rayons X
J.-L. BoutaineCentre de Recherche et de Restauration des Musées de France, Laboratoire des Musées de France, 6 rue des Pyramides, 75041 Paris cedex 01, France
Résumé
Le Centre de Recherche et de Restauration des Musées de France (C2RMF) a, parmi ses missions, celle de développer et d'appliquer des techniques d'examen, de caractérisation et d'analyse des oeuvres d'art ou du patrimoine culturel, des matériaux constitutifs de ces oeuvres, afin de connaître les mécanismes de leur élaboration, de leur évolution / dégradation et d'établir des recommandations en vue de leur restauration et de leur conservation. Pour cela, il privilégie les méthodes non-destructives, sans contact, sans prélèvement. Parmi ces méthodes, certaines mettent en oeuvre les rayons X : radiographie X, émissiographie, radiographie par électrons secondaires, stratigraphie, diffraction X, microscopie électronique à balayage (MEB) et analyse par spectrométrie X associée, analyse par fluorescence X, analyse par faisceaux d'ions (AGLAE) : PIXE et fluorescence X secondaire. On sollicite également des laboratoires extérieurs (tomodensitométrie, caractérisation structurale à l'aide du rayonnement synchrotron). Ces méthodes, seules ou associées à d'autres méthodes sont appliquées à des oeuvres très diverses et des matériaux de toute nature, de toute origine et de tout âge. On illustrera ces techniques à propos de divers exemples récents d'objets de collections publiques françaises étudiés par le Centre.
© EDP Sciences 2001