UVX - Colloques sur les Sources Cohérentes et Incohérentes UV, VUV et X : Applications et développements récents

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Détermination de l'épaisseur d'une couche mince par transformation de Fourier de la réflectivité du rayonnement X

E. Gachon, P. Stemmler, R. Marmoret, J.-M. André et R. Barchewitz

J. Phys. IV France, 09 PR5 (1999) Pr5-75-Pr5-76

DOI: 10.1051/jp4:1999524

E. Gachon

P. Stemmler

R. Marmoret

J.-M. André

R. Barchewitz

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