Open Access
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UVX 2008
2009
UVX 2008 - 9e Colloque sur les Sources Cohérentes et Incohérentes UV, VUV et X ; Applications et Développements Récents
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| Page(s) | 21 - 27 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/uvx/2009005 | |
| Publié en ligne | 7 juillet 2009 | |
UVX 2008 (2009) 21-27
DOI: 10.1051/uvx/2009005
Institut de Physique de Rennes, UMR-CNRS 6251, Université de Rennes 1, 35042 Rennes Cedex, France
Published online: 7 July 2009
© EDP Sciences 2009
DOI: 10.1051/uvx/2009005
X-ray diffraction for material science
E. Collet, M. Buron, H. Cailleau, M. Lorenc, M. Servol, P. Rabiller and B. ToudicInstitut de Physique de Rennes, UMR-CNRS 6251, Université de Rennes 1, 35042 Rennes Cedex, France
Published online: 7 July 2009
Abstract
This paper presents different aspects of x-ray diffraction techniques for material science: investigation of symmetry breaking, electron density analysis, diffuse scattering, aperiodic systems and time-resolved experiments.
© EDP Sciences 2009