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Numéro |
J. Phys. IV France
Volume 138, December 2006
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Page(s) | 231 - 236 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jp4:2006138026 | |
Publié en ligne | 6 janvier 2007 |
8e Colloque sur les Sources cohérentes et incohérentes UV, VUV et X :
Applications et développements récents
R. Moncorgé et J.L. Doualan
J. Phys. IV France 138 (2006) 231-236
DOI: 10.1051/jp4:2006138026
Laboratoire Charles Fabry de l'Institut d'Optique, Campus de Polytechnique, RD 128, 91127 Palaiseau, France
(Publié en ligne le 6 janvier 2007)
© EDP Sciences 2006
R. Moncorgé et J.L. Doualan
J. Phys. IV France 138 (2006) 231-236
DOI: 10.1051/jp4:2006138026
Métrologie d'indice par interférométrie EUV
S. de Rossi, D. Joyeux, F. Delmotte and B. Ea-KimLaboratoire Charles Fabry de l'Institut d'Optique, Campus de Polytechnique, RD 128, 91127 Palaiseau, France
(Publié en ligne le 6 janvier 2007)
Résumé
Nous décrivons la détermination directe des
indices de matériaux en fonction de la longueur d'onde par
interférométrie dans la gamme spectrale EUV (10-50 nm).
L'interféromètre de type division de front d'onde est un bimiroir de
Fresnel. Le principe consiste à mesurer le décalage des franges
entre le côté de l'interférogramme qui a vu l'échantillon et
le côté référence sans échantillon. Une analyse de
Fourier permet d'extraire l'épaisseur optique du matériau. Nous
présentons les premiers résultats de la mesure d'indice du
molybdène avec l'instrument réalisé.
© EDP Sciences 2006