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J. Phys. IV France
Volume 11, Numéro PR7, Octobre 2001
5e Colloque sur les Sources cohérentes et incohérentes UV, VUV et XApplications et développements récents |
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| Page(s) | Pr7-53 - Pr7-56 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jp4:2001719 | |
5e Colloque sur les Sources cohérentes et incohérentes UV, VUV et X
Applications et développements récents
J. Phys. IV France 11 (2001) Pr7-53-Pr7-56
DOI: 10.1051/jp4:2001719
Institut Fresnel Marseille, CNRS/ENSPM, Université d'Aix Marseille, Université de Provence, École Nationale Supérieure de Physique de Marseille, Domaine Universitaire de Saint Jérôme, 13397 Marseille cedex 20, France
© EDP Sciences 2001
Applications et développements récents
J. Phys. IV France 11 (2001) Pr7-53-Pr7-56
DOI: 10.1051/jp4:2001719
Topographie multi-échelle pour le filtrage optique multicouche large-bande
C. Amra, C. Deumié, J.Y. Natoli and M. CommandréInstitut Fresnel Marseille, CNRS/ENSPM, Université d'Aix Marseille, Université de Provence, École Nationale Supérieure de Physique de Marseille, Domaine Universitaire de Saint Jérôme, 13397 Marseille cedex 20, France
Résumé
On s'intéresse aux problèmes multi-échelles qui interviennent lorsque l'on aborde la réalisation et la caractérisation de systèmes interférentiels multicouches pour des applications de type filtrage optique allant de l'UV (150 nm) au moyen infra-rouge (16 µm). Ces difficultés concernent les propriétés optiques, à caractère radiatif ou dissipatif; mais aussi les propriétés thermiques, mécaniques et climatiques, ou de tenue au flux laser ... On montre l'importance de la dispersion spectrale de la rugosité pour un polissage multi-échelle, ou le rôle crucial de nano-centres faiblement distribués et initiateurs des processus d'endommagement laser...
© EDP Sciences 2001