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J. Phys. IV France
Volume 09, Numéro PR5, May 1999
4e Colloque sur les Sources cohérentes et incohérentes UV, VUV et XApplications et développements récents |
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Page(s) | Pr5-67 - Pr5-70 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jp4:1999522 |
Applications et développements récents
J. Phys. IV France 09 (1999) Pr5-67-Pr5-70
DOI: 10.1051/jp4:1999522
Interférométrie XUV sans lame séparatrice : principes et applications
D. Joyeux1 and F. Polack21 Laboratoire Charles Fabry, Institut d'Optique, BP. 147, 91403 Orsay cedex, France
2 LURE, UMR 130, bâtiment 209D, Campus d'Orsay, 91405 Orsay cedex, France
Résumé
La faisabilité d'expériences interférométriques au sens de l'optique classique est liée à la très forte augmentation de la luminance des sources XUV dites cohérente : sources synchrotron, mais aussi laser X et source harmonique. Leur réalisation pratique repose sur la prise en compte des spécificités du domaine XUV, (très petite longueur d'onde, très forte absorption par la matière, cohérence limitée selon les sources) pour la conception et la réalisation d'un interféromètre. Ceci nous a conduit à faire le choix d'interféromètres sans lame séparatrice, utilisant des miroirs plans, si possible sous incidence rasante, du type "miroirs de Fresnel". Cette technique est utilisable dans un très large domaine spectral et a déjà permis de réaliser un certain nombre d'expériences nouvelles dans la région XUV, avec toutes les sources X "cohérentes" disponibles. Nous discuterons les principes de base, les techniques et contraintes de réalisation d'un interféromètre XUV, ainsi que les applications possibles.
© EDP Sciences 1999