UVX - Colloques sur les Sources Cohérentes et Incohérentes UV, VUV et X : Applications et développements récents

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Calibration de lames de phase par interférométrie à 13 nm

P. Pichon, D. Joyeux, D. Phalippou, M. Singh, J . Braat, M . Haidl et U. Dinger

J. Phys. IV France, 11 PR7 (2001) Pr7-25-Pr7-26

DOI: 10.1051/jp4:2001708

P. Pichon

D. Joyeux

D. Phalippou

M. Singh

J . Braat

M . Haidl

U. Dinger

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