UVX - Colloques sur les Sources Cohérentes et Incohérentes UV, VUV et X : Applications et développements récents

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Mesure de l'indice de réfraction par interférométrie en X mous

J. Svatos, F. Polack, D. Joyeux et D. Phalippou

Ann. Phys. Fr., 17 (1992) 195-196

Publié en ligne : 1 juin 2004

DOI: 10.1051/anphys/1992040

J. Svatos

F. Polack

D. Joyeux

D. Phalippou

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