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High-resolution scanning coherent X-ray diffraction microscopy

P. Thibault, M. Dierolf, A. Menzel, O. Bunk et F. Pfeiffer

UVX - Colloque sur les Sources Cohérentes et Incohérentes UV, VUV et X : Applications et développements récents, (2009) 145-149

DOI: https://doi.org/10.1051/uvx/2009023

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