Détermination de l'épaisseur d'une couche mince par transformation de Fourier de la réflectivité du rayonnement X E. Gachon, P. Stemmler, R. Marmoret, J.-M. André et R. BarchewitzJ. Phys. IV France, 09 PR5 (1999) Pr5-75-Pr5-76DOI: https://doi.org/10.1051/jp4:1999524